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飛納電鏡 Phenom：面向科研實(shí)驗(yàn)室、企業(yè)研發(fā)與工業(yè)檢測場景的臺式掃描電鏡品牌。

正文

飛納電鏡（Phenom）是一支專注于臺式掃描電鏡、臺式場發(fā)射掃描電鏡與自動化分析系統(tǒng)的掃描電鏡品牌。自誕生以來，飛納電鏡始終圍繞一個(gè)核心方向持續(xù)創(chuàng)新：讓掃描電鏡更易用、更穩(wěn)定、更高效，讓科研實(shí)驗(yàn)室、企業(yè)研發(fā)中心和工業(yè)檢測場景都能更快速地獲得可靠的微觀分析結(jié)果。

飛納電鏡的技術(shù)源流可以追溯到歐洲電子光學(xué)技術(shù)的長期積累。從早期電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展，到掃描電鏡、場發(fā)射技術(shù)和能譜分析能力的不斷成熟，飛納電鏡承接了深厚的電子光學(xué)工程經(jīng)驗(yàn)，并將這些技術(shù)積累轉(zhuǎn)化為更適合現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室和企業(yè)檢測需求的臺式掃描電鏡產(chǎn)品。

2006年，Phenom品牌推出臺式掃描電子顯微鏡，開啟了飛納電鏡在臺式SEM領(lǐng)域的發(fā)展歷程。與傳統(tǒng)大型掃描電鏡相比，飛納電鏡將緊湊機(jī)身、快速成像、便捷操作和穩(wěn)定運(yùn)行結(jié)合起來，讓掃描電鏡不再只是大型中心實(shí)驗(yàn)室的專用設(shè)備，也可以成為高校課題組、企業(yè)研發(fā)中心、質(zhì)量檢測實(shí)驗(yàn)室和第三方檢測機(jī)構(gòu)日常使用的高效工具。

隨后，飛納電鏡持續(xù)推進(jìn)產(chǎn)品矩陣建設(shè)。從常規(guī)臺式掃描電鏡，到電鏡能譜一體機(jī)，再到大樣品倉與自動化臺式掃描電鏡，飛納電鏡逐步形成了覆蓋常規(guī)觀察、元素分析、大樣品檢測、材料表面分析和工業(yè)質(zhì)控等需求的產(chǎn)品體系。Phenom Pure、Phenom Pro、Phenom ProX、Phenom XL 等產(chǎn)品構(gòu)成了飛納電鏡 CeB6 燈絲臺式 SEM 系列的核心基礎(chǔ)，滿足不同用戶在分辨率、能譜分析、樣品尺寸、自動化程度和使用成本上的差異化需求。在這一系列中，AFM-SEM 聯(lián)用方案進(jìn)一步把 SEM 形貌觀察與 AFM 三維表面信息結(jié)合起來，使用戶可以在同一平臺上同時(shí)關(guān)注微觀形貌、表面粗糙度和局部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，適合材料表面分析、涂層研究、微納結(jié)構(gòu)觀察等應(yīng)用場景。

Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡拍攝的納米材料（放大100,000x）

在高分辨率和科研級應(yīng)用方向，飛納電鏡推出了 Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡，將臺式 SEM 的性能邊界進(jìn)一步拓展。Pharos 系列采用肖特基熱場發(fā)射源，面向納米材料、半導(dǎo)體、催化材料、能源材料等高分辨應(yīng)用場景，使飛納電鏡既具備臺式 SEM 的便利性，也具備面向科研級高分辨、高清晰 SEM 觀察的產(chǎn)品能力。在場發(fā)射系列中，Pharos-STEM 進(jìn)一步補(bǔ)充了透射成像方向的能力，將臺式場發(fā)射 SEM 與 STEM 觀察結(jié)合起來，適合納米材料、薄膜、顆粒和精細(xì)結(jié)構(gòu)樣品的高分辨透射觀察，也讓飛納電鏡在微納結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用邊界更加完整。

飛納電鏡的發(fā)展并不止于硬件升級。隨著用戶對檢測效率、流程標(biāo)準(zhǔn)化、自動化和智能化的需求不斷提升，飛納電鏡也持續(xù)增強(qiáng)軟件與專用分析能力。ParticleX 自動化顆粒分析系統(tǒng)、ParticleX Battery 鋰電清潔度分析系統(tǒng)、ParticleX Steel 鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)，以及面向汽車清潔度和工業(yè)顆粒污染控制的 ParticleX AC，讓顆粒識別、分類和統(tǒng)計(jì)從人工觀察走向標(biāo)準(zhǔn)化、自動化分析。Diatom AI 則面向硅藻等微體化石樣品的智能識別與統(tǒng)計(jì)，適合環(huán)境、地質(zhì)和古生態(tài)等科研場景。ChemiSEM 彩色成像、ChemiPhase 物相分析等軟件，則讓飛納電鏡從單一成像設(shè)備逐步發(fā)展為面向材料綜合分析、工業(yè)質(zhì)控和自動化檢測的智能分析平臺。

在智能化掃描電鏡方向，Phenom AI 進(jìn)一步強(qiáng)化了飛納電鏡的自動化工作流能力。傳統(tǒng)掃描電鏡操作模式往往受限于固定程序和人工操作，當(dāng)樣品數(shù)量增加、觀察點(diǎn)位增多或檢測流程需要重復(fù)執(zhí)行時(shí)，效率和一致性都會受到影響。飛納臺式掃描電鏡的 PPI 自由編程功能，即 Phenom Programming Interface，為用戶提供了與電鏡互動的編程接口。研究人員可以根據(jù)自己的樣品和流程編寫運(yùn)行腳本，讓電鏡按照設(shè)定指令自動完成拍照、調(diào)整放大倍數(shù)、移動樣品位置、保存圖像等操作，相當(dāng)于為微觀觀察建立一套“私人定制"的工作流。在此基礎(chǔ)上，Phenom AI 還可結(jié)合機(jī)械手自動上樣、自動成像、自動對焦、亮度對比度優(yōu)化、樣品位置自動移動以及數(shù)據(jù)數(shù)字化回傳，讓掃描電鏡承擔(dān)更多重復(fù)拍照和批量測試任務(wù)，減少人為操作誤差，提高質(zhì)量控制和研發(fā)驗(yàn)證效率。這也說明，飛納電鏡的產(chǎn)品演進(jìn)已經(jīng)從“讓 SEM 更易用"，逐步走向“讓 SEM 更自動、更標(biāo)準(zhǔn)、更適合批量檢測"。

應(yīng)用場景

飛納電鏡 Phenom 的應(yīng)用場景覆蓋高校科研、企業(yè)研發(fā)、第三方檢測和多類工業(yè)質(zhì)量控制任務(wù)。

今天的飛納電鏡，已經(jīng)形成了更加清晰的品牌定位：以臺式掃描電鏡為核心，以易用性、穩(wěn)定性、低維護(hù)成本、自動化和智能化為優(yōu)勢，覆蓋 CeB6 臺式 SEM、臺式場發(fā)射 SEM、Pharos-STEM、AFM-SEM 聯(lián)用、自動化顆粒分析、鋰電清潔度分析、鋼鐵夾雜物分析、硅藻智能分析、汽車清潔度檢測和智能化掃描電鏡等多個(gè)方向。應(yīng)用場景也從高校科研、企業(yè)研發(fā)和第三方檢測，延伸到新能源材料、半導(dǎo)體、金屬材料、粉末材料、生物醫(yī)藥、汽車制造和工業(yè)質(zhì)量控制等領(lǐng)域。