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Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于第三方檢測(cè)中的多類樣品形貌觀察和元素分析。

Phenom ProX G7 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X，分辨率優(yōu)于 6 nm，采用 CeB6 燈絲，并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力，適合形貌觀察、微區(qū)元素分析和材料研發(fā)檢測(cè)。

該產(chǎn)品適合高校實(shí)驗(yàn)室、企業(yè)研發(fā)中心、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)及工業(yè)質(zhì)檢場(chǎng)景。具體配置和價(jià)格根據(jù)樣品類型、探測(cè)器配置、能譜分析需求及服務(wù)方案確定，可通過(guò)平臺(tái)詢價(jià)/留言入口獲取選型建議，并預(yù)約試樣。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1. 臺(tái)式掃描電鏡與能譜分析能力結(jié)合。

2. 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X。

3. 分辨率優(yōu)于 6 nm，適合常規(guī)材料微觀形貌觀察。

4. CeB6 燈絲壽命優(yōu)于 3000 小時(shí)。

5. 支持高/低真空模式。

6. 標(biāo)配背散射探測(cè)器和能譜探測(cè)器，可選配二次電子探測(cè)器。

7. 適合顆粒、異物、缺陷區(qū)域和材料微區(qū)成分分析。

8. 支持選型咨詢，可預(yù)約試樣。

應(yīng)用領(lǐng)域：

可用于第三方檢測(cè)、樣品形貌觀察、異物分析、元素分析、材料失效分析和質(zhì)量控制。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號(hào)：Phenom ProX G7

產(chǎn)品全稱：ProX 電鏡能譜一體機(jī)

產(chǎn)品類型：臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)

光學(xué)放大：27 - 160 X

電子光學(xué)放大：350,000 X

分辨率：優(yōu)于 6 nm

電子槍：CeB6 燈絲，使用壽命優(yōu)于 3000 小時(shí)

光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)：彩色

加速電壓：基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV

高級(jí)模式：4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào)

真空模式：高 / 低真空

探測(cè)器：背散射探測(cè)器、能譜探測(cè)器

可選探測(cè)器：二次電子探測(cè)器