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金屬材料形貌與元素分析用飛納掃描電鏡

更新時間:2026-08-13
產(chǎn)品型號:Phenom ProX G7
所屬分類:臺式掃描電鏡
描述:Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機(jī),可用于金屬材料形貌與元素分析,幫助觀察斷口、腐蝕、夾雜和缺陷區(qū)域。
Phenom ProX G7 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X,分辨率優(yōu)于 6 nm,采用 CeB6 燈絲,并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力,適合形貌觀察、微區(qū)元素分析和材料研發(fā)檢測。
該產(chǎn)品適合高校實驗室、企業(yè)研發(fā)中心、第三方檢測機(jī)構(gòu)及工業(yè)質(zhì)檢場景。
詳情介紹

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機(jī),可用于金屬材料形貌與元素分析,幫助觀察斷口、腐蝕、夾雜和缺陷區(qū)域。

Phenom ProX G7 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X,分辨率優(yōu)于 6 nm,采用 CeB6 燈絲,并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力,適合形貌觀察、微區(qū)元素分析和材料研發(fā)檢測。

該產(chǎn)品適合高校實驗室、企業(yè)研發(fā)中心、第三方檢測機(jī)構(gòu)及工業(yè)質(zhì)檢場景。具體配置和價格根據(jù)樣品類型、探測器配置、能譜分析需求及服務(wù)方案確定,可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議,并預(yù)約試樣。

 

產(chǎn)品特點:

1. 臺式掃描電鏡與能譜分析能力結(jié)合。

2. 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X。

3. 分辨率優(yōu)于 6 nm,適合常規(guī)材料微觀形貌觀察。

4. CeB6 燈絲壽命優(yōu)于 3000 小時。

5. 支持高/低真空模式。

6. 標(biāo)配背散射探測器和能譜探測器,可選配二次電子探測器。

7. 適合顆粒、異物、缺陷區(qū)域和材料微區(qū)成分分析。

8. 支持選型咨詢,可預(yù)約試樣。

 

應(yīng)用領(lǐng)域:

可用于金屬材料形貌與元素分析、斷口觀察、腐蝕分析、夾雜物輔助判斷和企業(yè)質(zhì)檢。

 

技術(shù)參數(shù):

產(chǎn)品型號:Phenom ProX G7

產(chǎn)品全稱:ProX 電鏡能譜一體機(jī)

產(chǎn)品類型:臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)

光學(xué)放大:27 - 160 X

電子光學(xué)放大:350,000 X

分辨率:優(yōu)于 6 nm

電子槍:CeB6 燈絲,使用壽命優(yōu)于 3000 小時

光學(xué)導(dǎo)航相機(jī):彩色

加速電壓:基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV

高級模式:4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào)

真空模式:高 / 低真空

探測器:背散射探測器、能譜探測器

可選探測器:二次電子探測器

 

常見問題:

1. 這款設(shè)備適合做什么分析?適合材料形貌觀察、微區(qū)元素分析、顆粒異物分析、失效分析和研發(fā)質(zhì)檢。

2. 是否可以做元素分析?可以。該產(chǎn)品為電鏡能譜一體機(jī),可用于顆粒、異物或局部區(qū)域的元素分析。

3. 價格是多少?價格根據(jù)配置、探測器選項和應(yīng)用需求確定,可通過平臺詢價入口獲取選型建議,并預(yù)約試樣。

 

如需了解 Phenom ProX G7 在金屬材料元素分析中的配置方案、應(yīng)用資料或報價信息,可通過平臺詢價/留言入口提交樣品類型與測試需求,獲取選型建議,并預(yù)約試樣。


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郵箱:info@phenom-china.com

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